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SZT-K型兩探針電阻率測試臺
SZT-K型兩探針電阻率測試臺
蘇州晶格電子有限公司自主研發生產SZT-K兩探針電阻率測試儀,電線電纜電阻率專用測試儀,四探針測試儀,方阻測試儀
產品類別: SZT-K1型兩探針電阻率測試臺
上架時間: 2013/5/2 17:31:25
瀏覽次數: 8232
產品詳細
 SZT-K型兩探針電阻率測試臺
SZT-K兩探針電阻率測試儀
 操作使用說明書
一 、功能與結構特征概述
      

電線電纜電阻率專用測試儀

   基本功能:SZT-K1型兩探針電阻率測試臺,是用來裝夾棒類樣品(圓或方截面),連接四探針測試儀器,進行兩探針法電阻率測試的機具。是兩探針法測試電阻率儀器的配套測量裝置(以下簡稱測試臺)。設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》,GBT 24525-2009 《炭素材料電阻率測定方法》。
    基本組成:測試臺主要有底板、雙軌水平導向單元、探頭水平移動及測試壓力調節單元、左右樣品裝夾單元等。
    配套與兼容:本測試臺自帶兩探針測試探頭,兼容本公司大部分四探針測試儀器。
二、基本參數和可測半導體材料尺寸  
    兩探針針距:10mm,15mm,20mm可調
    可測樣品:直徑或邊長:    圓截面≤ Φ50mm,或≤ 50mm×50mm方截面。
    長(或高)度: 兩端面頂持方式L≤420mm, 側面夾持方式不限。
    測量方位: 軸向(長度方向)。
三 、使用方法
     3.1 放置樣品:
SZT-K兩探針電阻率測試儀
     根據樣品長短和需要選擇樣品裝夾方式,對于較粗短的適合用兩端面對頂夾持方式,如圖3.1A。對于較細長的樣品適合用兩端側面夾持的方式,如圖3.1B。
兩端面夾持的方式樣品放置操作步驟如下:
     首先,把紅色扳手向上向后板起,把兩探針測試探頭向上抬起,便于樣品裝夾,圖3.2A,轉動測試臺底板右側手輪,使得右裝夾電極單元移動到左右電極距離稍大于樣品長度,如圖3.2A,左手托起樣品,水平置于兩電極之間,參照左右電極的“V”型槽和測試探頭探針位置,將樣品水平置于探頭探針正下方,合適的垂直高度,右手轉動手輪,向左移動右電極將樣品從兩端面夾緊。如圖3.2B。為了樣品和電極接觸良好,最好在接觸面墊上炭紙,下同。
 
      兩端側面夾持的方式樣品放置操作步驟如下:
參照圖3.1B,參照端面夾持的方式,不同的是,先調節左右電極上的夾緊螺母,使得左右兩個活動上電極先向上,使得上下電極反“V”型槽之間有足夠空間穿放樣品。樣品放好,調節垂直鎖緊螺母,夾緊樣品。如圖3.2C。
    3.2探頭探針壓力調整:
 
 
     將測試臺上部操作扳手向前向下,壓下探頭。如圖3.3A,在探頭壓下的狀態下,可根據樣品上側面和探頭探針尖的距離,如圖3.3B,調節測試臺垂直導軌支架中部螺桿上的螺母(先松開鎖緊螺帽),如圖3.3C,觀察探頭探針壓下程度,調節測試壓力!一般以探針被壓縮2mm行程為宜。調好后鎖緊鎖緊螺帽。                   
    3.3 調節修正系數,讀取電阻率值:
根據樣品截面S和兩探針針距L,查說明書附表,得修正系數K,輸入到儀器中,直接讀取電阻率值,儀器操作參考所配儀器說明書。
    3.4 測試樣品不同段點的電阻率值:
一個段點測試完畢,抬起探頭,水平移動探頭單元,在選擇的另一段點壓下探頭即可,直接讀取電阻率值。
    3.4 付卸樣品:
    先抬起探頭,對于端面夾持的樣品,要在手托好樣品后,轉動手輪松開樣品,再移去樣品。對于穿芯式側面夾持的樣品,松開兩電極上方的鎖緊螺母后,從兩端抽取出樣品。
 
 
五、聯系方式:18914021918/0512-80973697  QQ:2851706351丁先生
 
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